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EMC可視化測定サービス

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精確かつ高度なEMI・EMS設計がICT機器・製品の安全性や品質向上を支え、開発工程の生産効率を高めます。

ICT機器などの製造で、電磁波・静電気による人体や周辺機器への影響、ノイズによる装置自体の誤動作が課題となっています。EMC＊1 可視化システムは、部品や機器から発生するノイズ対策、周辺機器をノイズから防御する対策、人からの静電気による誤動作の防止対策など、EMI・EMS＊2 設計の課題を解決。開発期間を大幅に短縮し、開発コストの低減を実現します。また、お客様の個別要件に対するコンサルティングから、カスタマイズまで幅広く対応できます。

問題個所の特定と確実な対策により、製品品質や信頼性を向上。開発金管やコストリスクを低減し、製品教速力や開発力を強化します。

近年の装置開発におけるノイズ問題

  • 機能の複合化による製品開発が増加し、装置のEMC対策が必要
  • 半導体、メモリ、インタフェースドライバなど単体でのEMI対策が必要
  • 機能アップによる部品選定時に、EMI設計指針が欲しい
ノイズの発生原因イメージ図です

製品開発の各段階におけるEMC対策

設計、試作、評価、製造の各段階におけるEMC対策の説明図です

ラインアップ

利用例

装置

  • 対策測定の効率化
  • ノイズ進入ルートの検証
  • 高速インタフェース、ケーブル対策

半導体

  • 電源ノイズ計測とモデル検証
  • 半導体内部のノイズ源探索、対策効果検証

基板

  • シミュレーションとの検証
  • 基板単体対策
  • フィルタ部品の効果検証

モジュール

  • 単体ノイズ品質把握
  • モジュール内部のノイズ源探索、対策効果検証

＊1 EMC(Electro-Magnetic Compatibility)：電磁両立性
＊2 EMI（Electro-Magnetic Interference）：電磁妨害
　　 EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）：電磁感受性

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