NECプラットフォームズ
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活用例・撮像サンプル
スキャナ方式ラインカメラ活用例
以下の検査対象で活用をいただいております。適用ケースなどお気軽にお問い合わせください。
撮像サンプル
スキャナ方式ラインカメラの特長を活かした各種条件の撮像により、さまざまな分野での活用ができます。
当社スキャナ方式ラインカメラを使用し撮像した画像の紹介をします。
金属片
凹みやキズのついた表面光沢度の異なる５つの金属サンプルを「反射照明」と「同軸落射照明」で撮像しました。
反射照明では、表面光沢度が低いサンプルの表面が暗く見え、キズは白く強調されて見分けることができます。
同軸落射照明では、表面光沢度が高いサンプルの表面が明るく見え、キズは黒く強調されて見分けることができます。
鏡面アルミ板：反射して見えづらい検査対象
キズ・打痕・汚れをつけた鏡面アルミ板を「反射照明」と「同軸落射照明」で撮像しました。
反射照明を使うと、汚れやラベルの記載内容を見分けることができます。
同軸落射照明を使うと、反射して見えづらい鏡面のアルミ板の表面のキズや打痕を見分けることができます。
透明フィルム
折れや凹み、ムラがある透明なフィルムを「同軸落射照明」で撮像しました。
同軸落射照明を使うと、透明なフィルムの凹凸も鮮明に撮像することができます。
透明なアクリル板
キズや汚れのある透明なアクリル板を「反射照明」と「同軸落射照明」で撮像しました。
反射照明を使うとアクリル板に貼ったQRコードを鮮明に撮像することができます。
同軸落射照明を使うと、透明なアクリル板のキズや汚れを鮮明に撮像することができます。
電子基板：高低差のある立体物の撮像
高低差のある立体物として電子基板を「反射照明」で撮像しました。
当社のスキャナでは、被写界深度が深いため、コンデンサのように基板上の背の高い部品と基板表面が同じように撮像できます。
半導体ウェハー
ベアウェハーを「同軸落射照明」で撮像しました。
膜有りウェハーを「同軸落射照明」で撮像しました。
パターン有りウェハーを「同軸落射照明」で撮像しました。
- スキャナ方式ラインカメラの特長については「スキャナ方式ラインカメラの特長」のページをご覧ください
- スキャナ方式ラインカメラの詳細スペックについては「スキャナ方式ラインカメラ製品仕様」のページをご覧ください
お見積り・サンプル撮像
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