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第27回 自動認識総合展
展示会概要
国内で唯一の自動認識技術（AUTO ID）・ソリューションの専門展示会です。
「未来をつなぐAUTO-ID」をスローガンに、自動認識の先進技術が披露されるほか、「画像認識×AI」の技術や、全講演無料のセミナー、自動認識システム大賞受賞作品の発表など、自動認識業界の一大イベントとして多彩な展示・企画が用意されています。
導入事例や市場動向など、知識習得や現場の課題解決に役立つ情報収集、さまざまな業種、立場の方々との交流を促進する場としても活用できます。
- 展示会名
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「第27回 自動認識総合展」AUTO-ID & COMMUNICATION EXPO
展示会の公式サイトはこちら - 主催
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一般社団法人日本自動認識システム協会
- 会期
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2025年 9月10日(水) ～ 12日(金) 10:00～17:00
- 会場
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東京ビッグサイト（東京国際展示場）西展示棟 西2ホール
東京都江東区有明3丁目11番1号会場までのアクセスはこちら - 入場料
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無料 （事前登録制）
来場事前登録
展示会に入場するには事前登録が必要です（無料）。
※展示会主催者サイトへジャンプします
当社の出展内容
NECプラットフォームズブースでは、すでにさまざまなお客さまに導入いただいている「コンパクトボックス型コントローラ」に加え、「測距システム」「においセンシング」といった次世代の技術、次世代のセンシングシステムをご紹介いたします。
コンパクトボックス型コントローラ
展示卓では、人の手指の動きをNEC独自の技術で映像認識する現場向けAIソリューション「NEC Digital Twin ヒト・作業ログ分析ソリューション」のデモを出展いたします。
工場などの過酷な現場でもパフォーマンスを発揮するコンパクトボックス型コントローラとNECの高度な映像AI解析技術で実現する、現場改善ソリューションを是非ご覧ください。
測距システム参考出展
測距に必要なステレオIPは、FPGAに搭載可能で低遅延/高精度での測距を実現します。
また、測距で得られた点群データに関しては、ノイズ除去、平面検出といった処理をFPGA化により高速に処理することが可能です。FPGAに搭載したAIEを利用することで、物体検知等のAI処理を高速に処理することも可能です。
本システムでは、AMD Ryzen™も搭載しており、FPGAで取得した点群情報、物体検知情報を元にさまざまな処理を実現することが可能です。
においセンシングシステム参考出展
さまざまなシーンにおいて活用できる“汎用型においセンサ”を用いて、複数のにおいや、混じりあった複合臭に対する測定や分析を行う、先進的なセンシング技術です。
製造業や物流業など、多様な分野での活用案を想定しています。
本展示では、自動車での利用シーンを想定し、実際のにおいの測定や分析の実演を含めた、活用案の紹介をいたします。
- ※掲載ソリューションは一例です。出展内容は、変更になる場合があります。ご了承ください。
- ※掲載されている会社名および商品名は、各社の商標または登録商標です。
NECプラットフォームズ ブース位置
- 東京ビッグサイト 西展示棟 西2ホール ブース番号：A-67
当社の出展製品に関するお問い合わせ
NECプラットフォームズ 組込エッジソリューション統括部 組込インテグレーショングループ
E-mail：autoid-expo2025@necpf.jp.nec.com