業界初、静電気放電による基板上の電流を可視化する「ESD可視化システム」を販売開始 ～静電気による電子機器の誤動作・故障予防に貢献～
2013年7月11日
NECエンジニアリング株式会社
ESD可視化システム
ESD可視化システム 画面
NECエンジニアリングは、電子機器市場における製品の安全性や品質の向上に向け、業界で初めて静電気電流の可視化を実現する「ESD可視化システム」を本日から販売開始します。出荷開始時期は、本年9月の予定です。
電子機器の製造過程においては、人が電子機器のボタンやコネクタ、スイッチなどに触れる際、人体に帯電した静電気が放電し、それによって発生した電流で機器が故障しないよう静電気放電対策が講じられています。
現状の静電気放電対策は、静電気試験器により電子機器の基板に放電を行い、オシロスコープ（注1）などを用いて状態を確認しながら、技術者の経験や勘を頼りに静電気の影響を受ける可能性のある箇所にアースを取り付けるなどの方法で行っています。
ESD（Electrostatic Discharge:静電気放電）可視化システムは、静電気により発生した電流が機器内の基板上をどのように流れるかを自動的に計測・可視化するものです。静電気により発生した電流を、電圧の強弱によって色分けし制御用PC上にアニメーション表示するため、静電気放電に起因した電子機器の誤動作や故障を起こしやすい箇所が特定できます。これにより、問題箇所を客観的かつ確実に把握できることから、的確な対策を講じることが可能です。このように静電気電流の可視化を実現するシステムは、業界で初めて（注2）となります。
本システムは、スキャナユニットと制御PC用ソフトウェアで構成され、静電気試験器、オシロスコープ（注3）、制御PC（注4）と組み合わせて使用します。
本システムの価格は、980万円（税別、注5）からです。NECエンジニアリングは本システムを、計測および計測結果分析などのコンサルタント業務とともに、電子機器を扱う幅広い分野に拡販し、今後3年間で30社への提供を目指します。
ESD可視化システムの主な特長は次のとおりです。
主な特長
- 静電気放電による電流を可視化
静電気試験器・オシロスコープ・制御PCと組み合わせて使用することで、人工的に発生させた静電気を計測対象の基板に放電し、その電流を自動的に計測し可視化します。
基板サイズは、500㎜（W）×500㎜（D）×210㎜（H）まで計測可能であり、計測時間は1845ポイント（41×45ポイント）の場合で約50分間です。
- 計測結果をアニメーション表示
計測結果は制御用PCにてカラーアニメーション表示できるため、時間の経過とともに変化する静電気放電経路を視覚的に捉えることができ、経験や勘に頼らない静電気放電対策が可能です。
本システムは、NECの中央研究所が開発した磁界プローブ法（注6）やNECエンジニアリングのEMCノイズ可視化システムにおける可視化のノウハウなどを応用し実現しています。NECエンジニアリングは、これらのシステムの提供により、電子機器の安全性や品質の向上に貢献していきます。
なお、NECエンジニアリングは本システムを「TECHNO-FRONTIER 2013 EMC・ノイズ対策技術展」(2013年7月17日(水)～19日(金)、東京ビッグサイト)にて動態展示します。
新製品の基本仕様については、以下のURLをご参照ください。
－以上－
参考資料
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参考リーフレット(製品仕様、オプションなど)注釈
(注1) オシロスコープ
目では見えない電気信号（電圧）の変化していく様子を観測できるようにした波形測定器
(注2) 2013年7月ＮＥＣエンジニアリング調べ
(注3) 静電気試験器・オシロスコープの推奨機種
- 静電気試験器
株式会社ノイズ研究所製 「静電気試験器 ESS-S3011」
テセック株式会社製 「静電気試験器 NSG 438」 - ミックスド・シグナル・オシロスコープ
Agilent Technologies製 「InfiniiVison MSOX3034A」
(注4) 制御PCに必要なスペック
- OS：(32bit版、64bit版) Windows® XP Professional、Windows® 7
- CPU：インテル® Celeron® / Pentium®4 1GHz以上
- メモリ：1GB以上
- ディスク：システム30MB+データ領域（2GB以上推奨）
- USB：2ポート（モータコントロールカード用、GPIB-USB用）
(注5) スキャナユニット、制御PC用ソフトウェアのみの価格であり、静電気試験器、オシロスコープ、制御PCの価格は含まれません。
(注6) 磁界プローブ法
IEC標準* 磁界プローブ法（Magnetic Probe Method；IEC61967-6）
NEC中央研究所が開発しIECに提案、2002年6月に発行されたIパッケージの電源端子を流れる高周波電流の測定法。
*IEC：International Electrotechnical Commission（国際電気標準会議）
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